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粗糙度轮廓仪SEF580-M50/-M58/-M58D

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表面粗糙度

測定范围/分解能

Z:800μm/0.08nm

测量速度

0.05~2mm/s

测针

R2μm 0.75mN以下

轮廓形状

测定精度

Z:±(2.5+0.5×l H l)μm以下 H:変位(mm)
X:±(2.5+0.02L)μm以下 L:測定长(mm)

測定范围

Z:30mm X:55mm

测针

R25μm 10~30mN