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日本小坂KOSAKA

日期: 2017-12-07 16:28:57
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 株式会社小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,是日本一家发表光学杠杆表面粗糙度计并具有悠久历史与技术背景的专业厂商,主要有测定/自动/流体三大部门。其中测定部门为具有代表性单位且在日本精密测定也占有一席无法被取代的地位。

KOSAKA测定部主要的业界历史事绩摘要

1.1950年於日本首度发表光学杠杆表面粗糙度计 SD-1。

2.1960年首先发表电子式表面粗糙度计 SE-1(专利)。

3.1966年首度发表真圆度计 EC-1并同时明石纪念会得最高科学工程精度奖。

4.1968年发表汎用型表面粗糙度计 SE-3并带动 IC电子产业发展。

5.1969年开发成功回转式真圆度计 EC-3。

6.1975年开发成功 ET薄膜测定机。

7.1977年发表世界上具有数位分析微处理器的表面粗糙度计 SE-3FTP。

8.1979年开发成功三次元表面粗糙度计 SE-3FK及全自动真圆度计 EC-4S。

9.1982年针对三次元表面粗糙度计开发成功资料分析软件SPA。

10.1984年开发成功高精度光触针表面测定机HIPOSS-ET10。

11.1994年开发成功触控面板表面测度机 SE-1700。

12.1995年开发成功镭射干涉数位形状测定机 DSF-1000。

13.1997年开发成功高精度真圆/圆筒测定机 EC-3400同年取得 ISO9001认证。

14.1998年开发成功数位式行轮廓测定机 EF-3000。

15.2000年开发成功全自动微细形状测定机 ET4000。

16.2003年开发成功推出粗糙度轮廓测量仪 DSF500,圆度和圆柱度测量仪 EC1550以及专用於测量轮廓的REF100,开发研制的空间坐标多关节测量仪填补了精密量测领域的空白。

17.2004年开发成功高精密全自动圆度仪 EC2500以及专门应用大型物件的 EC4100和 EC5100,Microfigure大型国际先进水平的全自动测量仪器的生产工艺ET5000/ET6000。

18.2005年开发成功推出便携式表面粗糙度测量仪SE500。

19.2006年开发成功数码式粗糙度轮廓测量仪 DSF800,表面轮廓仪 EF550。